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                          新品發(fā)布 返回上一頁

                          人工智能時(shí)代探針卡的可靠檢測(cè) 新型飛針測(cè)試機(jī)全新上市

                          發(fā)布時(shí)間:2024-04-02

                          HIOKI日置已于2024年3月26日推出飛針測(cè)試機(jī)※1 FA1815-20,用于檢測(cè)尖端IC芯片中使用的高精度載板。FA1815-20的速度最快高達(dá)每秒100點(diǎn),探針定位精度高,可以測(cè)試最細(xì)pad 4μm,在10V電壓下可測(cè)試高達(dá)100 GΩ的絕緣電阻*2。它縮短了以探針卡*3為代表的高精度基板的檢測(cè)時(shí)間,并通過消除潛在缺陷實(shí)現(xiàn)了高質(zhì)量,從而為提高半導(dǎo)體行業(yè)的生產(chǎn)率做出了貢獻(xiàn)。

                           

                          ※1:飛針測(cè)試機(jī):電路板檢測(cè)設(shè)備。測(cè)量探針(金屬針)在設(shè)定電路板上高速移動(dòng),對(duì)電路進(jìn)行檢測(cè)。通過更改設(shè)置,可用于檢測(cè)不同焊盤類型的電路板。

                          ※2:絕緣電阻:不同網(wǎng)絡(luò)之間的電阻。生產(chǎn)的電路板上回路焊盤的絕緣電阻過低會(huì)導(dǎo)致最終產(chǎn)品失效或故障。

                          ※3:探針卡:半導(dǎo)體生產(chǎn)過程中用于檢測(cè)的治具。和被測(cè)試芯片接觸的部分由精細(xì)焊盤組成。


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                          FA1815-20的內(nèi)部及其檢測(cè)對(duì)象高精度基板

                           

                          ■ 開發(fā)背景 

                          人工智能、5G 和物聯(lián)網(wǎng)(IoT)等新IT技術(shù)正在全球范圍內(nèi)迅速發(fā)展。隨著社會(huì)對(duì)采用IT技術(shù)的電子產(chǎn)品的使用越來越廣泛,對(duì)可靠性的要求也越來越高。作為IT技術(shù)基礎(chǔ)的電子電路安裝在被稱為高精度基板的硬件上。隨著半導(dǎo)體技術(shù)的發(fā)展,高精度基板的集成度越來越高。隨著高集成度的發(fā)展,回路焊盤越來越精細(xì),數(shù)量也越來越多,在生產(chǎn)高密度電路板的過程中,對(duì)檢測(cè)質(zhì)量的要求也越來越高。FA1815-20與以前的型號(hào)相比,不僅提高了速度和精度,而且還能在不損壞基板的情況下檢測(cè)潛在缺陷,從而滿足了日益復(fù)雜的市場(chǎng)需求。

                          在 IT 技術(shù)飛速發(fā)展的半導(dǎo)體市場(chǎng),為了在社會(huì)中應(yīng)用下一代技術(shù),需要提高生產(chǎn)率和可靠性。HIOK在生產(chǎn)高精度基板的必需工具-飛針測(cè)試機(jī)方面擁有雄厚的實(shí)力,將通過FA1815-20提供新的價(jià)值,為社會(huì)發(fā)展做出貢獻(xiàn)。

                           

                          ■ 產(chǎn)品特點(diǎn)

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                          飛針測(cè)試機(jī)FA1815-20

                           

                          1. 探測(cè)精度高,可靠性強(qiáng)

                          高集成度促進(jìn)了回路焊盤的精細(xì)化。FA1815-20 采用高剛性機(jī)身設(shè)計(jì)和新型探頭控制系統(tǒng),最小間距為 34 μm(測(cè)量焊盤之間的距離),最小焊盤為 4 μm(電路上的測(cè)量點(diǎn)),確保對(duì)極細(xì)回路焊盤也能進(jìn)行可靠的探測(cè)。

                           

                          2. 實(shí)現(xiàn)高速檢測(cè),提高生產(chǎn)率

                          更高的集成度也促進(jìn)可設(shè)計(jì)的回路焊盤數(shù)量的增加。FA1815-20 通過重新設(shè)計(jì)機(jī)器硬件和采用新的探針移動(dòng)算法,與以前的型號(hào)相比,檢測(cè)時(shí)間最多縮短了30%※4。

                          ※4:導(dǎo)通絕緣測(cè)試步可達(dá)4,000,000步。

                           

                          3.在 10 V 電壓下進(jìn)行高達(dá)100 GΩ的絕緣電阻檢測(cè),以減少對(duì)基板的損壞

                          基板上可能導(dǎo)致故障或失效的潛在故障可通過高壓絕緣電阻測(cè)試檢測(cè)出來。但是,通過施加高電壓,可能會(huì)損壞電路板。FA1815-20 使用改進(jìn)的前置放大器,可在 10 V 電壓下實(shí)現(xiàn)高達(dá)100 GΩ的絕緣電阻測(cè)試。這實(shí)現(xiàn)了高度可靠的檢測(cè),并且將損壞基板的風(fēng)險(xiǎn)降至最低。

                           

                          ■ 主要用途

                          檢測(cè)用于人工智能計(jì)算的 GPU 的探針卡

                          檢測(cè)用于5G和物聯(lián)網(wǎng)設(shè)備半導(dǎo)體的高精度基板

                          檢測(cè)用于智能手機(jī)、可穿戴設(shè)備、自動(dòng)駕駛汽車和其他高性能產(chǎn)品的基板

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