某外資工業(yè)制造行業(yè)客戶，創(chuàng)立已近150年，致力于各類建筑中的商用及民用供暖/制冷系統(tǒng)及零部件的研發(fā)生產(chǎn)。

	LCR測(cè)試儀IM3533 測(cè)量頻率1mHz~200kHz  1 ，最快2ms測(cè)試時(shí)間。在變壓器、線圈的測(cè)量中，可以運(yùn)算并顯示初級(jí)和次級(jí)的L測(cè)量、線圈匝數(shù)比，消除需要手動(dòng)計(jì)算的麻煩。IM3533-01還具有頻率掃描測(cè)試功能。
	多路轉(zhuǎn)換器ZC3001   搭配LCR測(cè)試儀或阻抗分析儀IM35XX系列使用，用于各類電子零部件、電感、電容、共模濾波器、掃描儀等測(cè)試?？芍С譁y(cè)試頻率最大10MHz，切換時(shí)間1ms?？墒褂肞LC的I/O輸出控制，支持每個(gè)通道分別進(jìn)行補(bǔ)償。通過(guò)配套應(yīng)用軟件CN040輕松進(jìn)行設(shè)置。

4端子開(kāi)爾文夾9140-1  DC~200kHz  2 ，50Ω，1m長(zhǎng)的開(kāi)爾文夾，適用于方便夾持的被測(cè)物在較低頻段下的測(cè)試。

 1  多測(cè)試頻段需求請(qǐng)與日置聯(lián)絡(luò)，我們將協(xié)助您進(jìn)行選型。

 2  高頻段下測(cè)試推薦使用4端子探頭L2000（DC~8MHz）

本場(chǎng)景中客戶的痛點(diǎn)是消除誤差以及多個(gè)被測(cè)物的測(cè)試效率問(wèn)題。

如何消除誤差？為了將回路中存在的4m引線帶來(lái)的影響盡可能降低，需要設(shè)置Load補(bǔ)償，測(cè)試電容的特性參數(shù)時(shí)，選擇Cp-D選項(xiàng)。測(cè)試被測(cè)物的初始值后得到基準(zhǔn)參數(shù)并輸入儀器。

如何提升元器件的測(cè)試效率？

搭配多路轉(zhuǎn)換器ZC3001后，拓展了LCR測(cè)試儀的通道數(shù)，快速完成多個(gè)被測(cè)物的LCR測(cè)試，相比單通道及手動(dòng)切換的測(cè)試方案能夠節(jié)省大量時(shí)間，有效提高老化試驗(yàn)的測(cè)試效率。

LCR在元器件的老化試驗(yàn)中的應(yīng)用

老化測(cè)試是元器件QC過(guò)程中的重要環(huán)節(jié)之一，目的是通過(guò)模擬元器件在實(shí)際使用過(guò)程中可能遇到的惡劣環(huán)境條件，如通過(guò)高溫、濕度、振動(dòng)等環(huán)境應(yīng)力的綜合作用，提前暴露元器件的缺陷和潛在問(wèn)題。因此，老化試驗(yàn)往往是一種對(duì)被測(cè)物狀態(tài)進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間評(píng)估的過(guò)程，回路內(nèi)部以及外部的干擾因素均會(huì)對(duì)測(cè)試帶來(lái)不利影響，進(jìn)行合理的補(bǔ)償功能設(shè)置并使用多通道的測(cè)試設(shè)備往往能夠有效提高此類試驗(yàn)過(guò)程中的測(cè)試效率。