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                          客戶案例

                          Customer case

                          共模和差模電感的掃頻測試方案

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                          客戶簡介

                          某外資工業(yè)制造行業(yè)客戶成立以來已有100年,分支機構(gòu)遍布亞洲、歐洲、南北美洲,在中國已設(shè)立近20家分公司。產(chǎn)品種類涉及各種繞線類電子器件、適配器、電子產(chǎn)品用化學(xué)材料、焊接設(shè)備等。

                          客戶Q&A

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                          阻抗分析儀IM7581


                          搭載LCR測量、掃頻測量和連續(xù)測量三種測量模式,測量頻率范圍100kHz~300MHz,測量時間最快0.5ms,基本精度±0.72%rdg.。配備比較器、接觸檢查、等效電路分析和相關(guān)補償?shù)裙δ堋?/p>


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                          測試夾具IM9202


                          是一款適用于帶引腳元件或SMD(貼片元件),測試頻率范圍為DC~600MHz的高頻阻抗測試夾具。避免了高頻下各種不確定的干擾因素對測試值造成的影響。推薦與測試夾具臺IM9200、校準(zhǔn)套件IM9905以及適配器IM9906搭配使用。


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                          實測回顧

                          如實測現(xiàn)場中所示,考慮到被測物規(guī)格,如引腳間距等標(biāo)準(zhǔn)治具無法滿足的情況,可以自制或由日置定制夾型治具(建議在測試頻率小于100MHz的條件下使用)。


                          共模電感阻抗掃頻測試曲線


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                          *將同側(cè)的引腳短接,實現(xiàn)三相共模電感的測試。


                          差模電感阻抗掃頻測試曲線


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                          共模/差模電感的測試目的往往是將測試結(jié)果與理論設(shè)計值進(jìn)行對比,評估不同頻率信號的傳輸性能。


                          *測試結(jié)果需結(jié)合客戶在進(jìn)行元器件設(shè)計時的具體需求來自行比對。

                          案例衍生

                          儀器在測量前的通用校準(zhǔn)設(shè)置:


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                          4 選擇校正方法


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                          ②各基準(zhǔn)器配件均包含在校準(zhǔn)套件IM9905中,可根據(jù)需求進(jìn)行選配。適配頭與基準(zhǔn)器的組合技巧:

                          將適配頭逆時針旋轉(zhuǎn)出螺紋,再將基準(zhǔn)器②對準(zhǔn)螺紋順時針旋轉(zhuǎn)將二者鎖緊。

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                          共模信號&差模信號


                          共模信號指的是幅度相等、相位相同的信號。共模測試目的一般是通過諧振點(或阻抗變化曲線)評估能否濾除(衰減)特定頻率的干擾信號;差模信號指的是幅度相等、相位相反的信號。差模測試目的一般是通過阻抗變化曲線評估特定頻率的目標(biāo)信號(客戶真正想要的電氣信號)能否無損傳輸。


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                          電感的諧振頻率


                          電感在諧振頻率之前呈現(xiàn)感性特性(阻抗隨頻率升高而增加),在諧振頻率之后則呈現(xiàn)容性特性(阻抗隨頻率升高而減?。?。在高于諧振頻率的頻段,電感將不發(fā)揮其作為電感的作用,因此通過對電感進(jìn)行掃頻測試,找到諧振頻率(俗稱諧振點),能夠幫助更好地對電感特性進(jìn)行分析。


                          日置阻抗分析儀產(chǎn)品線


                          日置的阻抗分析儀可測試頻率范圍覆蓋1mHz~3GHz。根據(jù)不同頻段,儀器分別使用電橋法和射頻I-V法兩種測試原理。

                          阻抗分析儀IM3570、IM3590采用電橋法測試原理,適用于低頻范圍(100MHz內(nèi))的測試。


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                          阻抗分析儀IM7580系列采用RF I-V法,即射頻 I-V法測試原理,

                          適用于中高頻范圍(約1MHz-3GHz)的測試。


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                          此外,日置為貼片封裝或帶有引腳的元器件的高頻阻抗分析開發(fā)了專用測試治具IM9201&IM9202,進(jìn)一步確保高頻下測試的準(zhǔn)確性。


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                          電子樣本

                          微信小程序:日置資料中心

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